MITの研究者たちは2026年3月30日、非侵襲性の中性子散乱技術のデータを用いて材料中の点欠陥を分類・定量化するAIモデルを開発したと、学術誌『Matter』に発表した。 筆頭著者は材料科学・工学科の博士課程候補者ムー […]
innovaTopia TaTsuMIT、AI×中性子散乱で材料中の原子欠陥を非破壊検出—半導体品質管理に新時代
Innovatopia / 4/2/2026
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Key Points
- MITが非侵襲性の中性子散乱データをAIで解析し、材料中の点欠陥（原子欠陥）を分類・定量化するモデルを開発した
- 研究は学術誌『Matter』に2026年3月30日付で発表され、欠陥の検出にAI×中性子散乱の組合せを提示した
- 従来の破壊的評価に依存しがちな材料・半導体の品質管理を、非破壊で高度化する可能性がある
- 欠陥の定量化精度やスループットが実用化できれば、製造工程での歩留まり改善や検査コスト低減に寄与しうる
2026年4月2日
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