微鏡画像からの自動粒径推定における基盤モデルとASTM金属組織標準の橋渡し
arXiv cs.CV / 2026/4/22
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要点
- 本論文は、Cellpose-SAMを材料組織向けに適応した高密度インスタンスセグメンテーション手法に、トポロジーを考慮した勾配トラッキングとASTM E112 Jeffries平面計測モジュールを統合して、微鏡画像から標準化された粒径を推定する自動パイプラインを提案している。
- 提案手法は、U-Net、プロンプト適応型の基盤セグメンテーションモデルMatSAM、視覚言語モデルQwen2.5-VL-7Bと比較ベンチマークされ、高密度な粒の計数や計測に必要な領域分離を維持できる点で、適応パイプラインが優れていることが示されている。
- 出発時点の視覚言語モデルは、微鏡での局所的な空間推論や緻密なカウントに課題があり、MatSAMはドメイン固有のプロンプト生成にもかかわらず過分割の傾向が見られた。
- 本手法は少数ショットでも性能が高く、学習データが2サンプルだけの場合でもASTMの粒径番号GをMAPE約1.50%まで低減して予測できる。
- さらに、異なる目標粒数に対する頑健性実験により、ASTMで定められた50粒サンプリングが最小要件であることが実データで裏付けられている。




